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BP150系列压阻式高温型敏感芯片
    发布时间: 2023-10-07 11:15    

·数字化系统协同设计MEMS全程自主可控

·SOI埋层SiO2电隔离,消除PN结反向饱和漏电流

·顶封玻璃、耐热合金电极,适应高温苛刻环境

·全工作温区信噪比高、重复性/热特性长期稳定

·可倒置封装,封装面积效益比最高

·Si和玻璃兼容绝缘、无腐蚀性被测压力介质

·表压、绝压、差压类型全覆盖

·低、中、高宽压力量程覆盖宽泛

BP150系列压阻式高温型敏感芯片

1、主要特点

  • 数字化系统协同设计,MEMS制造全程自主可控

  • SOI埋层SiO2电隔离,消除PN结反向饱和漏电流

  • 顶封玻璃、耐热合金电极,适应高温苛刻环境

  • 全工作温区信噪比高、重复性/热特性长期稳定

  • 可倒置封装,封装面积效益比最高

  • Si和玻璃兼容绝缘、无腐蚀性被测压力介质

  • 表压、绝压、差压类型全覆盖

  • 低、中、高宽压力量程覆盖宽泛

2、主要性能技术指标

一般试验环境条件(25℃),5VDC激励,典型数据表

序号

项目

规格指标

备注

1

测量范围

表压0~600kPa……20MPa

差压0~600kPa……2MPa

绝压0~600kPa……100MPa

表压0~40kPa……600kPa

差压0~40kPa……600kPa

绝压0~100kPa……600kPa

支持定制

2

工作温度

-55℃~+300/-55℃~+556


3

激励电源

额定5VDC/1mADC或最高10VDC/1.5mADC


4

桥路电阻

1kΩ~3


5

零点失调电压

±25mV


6

满量程输出(FSO)

≥55mV


7

准确度

(非线性、迟滞、重复性)

±0.1%FS

(±0.3%FS:量程≤40kPa或≥40MPa)

最小二乘法

8

过载压力

1.5倍~3倍额定量程

按企标

9

热零点输出漂移

±0.01%FS/℃(±0.05%FS/℃:量程≤40kPa)


10

热满量程输出漂移

-0.18%FS/℃~-0.12%FS/℃

电压激励

11

长期稳定性

±0.1%FS/年


12

芯片尺寸

2.0×2.0×1.25(mm)

2.8×2.8×1.25(mm)

长×宽×高



注:可提供定制服务,如有需求请与营销人员联系。